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188宝金博页面版: 军用塑封器件失效机理研究和试验流程_盛念

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内容提示: 军用塑封器件失效机理研究和试验流程盛念(空军驻广州深圳地区军事代表室, 广东 广州 510310 )摘 要: 由于其结构和材料等因素, 侵蚀、 “爆米花” 效应和易受温度形变是塑封器件常见的失效机理, 在其装入整机之前必须经过严格的可靠性评价或筛选以降低风险。 推荐了一套优化的塑封器件试验流程, 试验评价流程组合包括无损的外目检、 X 射线检查、 声学扫描显微镜检查, 以及具有破坏性的 DPA 、 寿命试验和耐潮性项目。 该试验评价程序针对主要的失效机理, 充分考虑了塑封器件的批质量一致性、 高温下的器件寿命和耐潮性, 可以作为军用塑封器件的主要评价手段。关...

文档格式:PDF | 页数:5 | 浏览次数:9 | 上传日期:2024-11-03 22:09:09 | 文档星级:
军用塑封器件失效机理研究和试验流程盛念(空军驻广州深圳地区军事代表室, 广东 广州 510310 )摘 要: 由于其结构和材料等因素, 侵蚀、 “爆米花” 效应和易受温度形变是塑封器件常见的失效机理, 在其装入整机之前必须经过严格的可靠性评价或筛选以降低风险。 推荐了一套优化的塑封器件试验流程, 试验评价流程组合包括无损的外目检、 X 射线检查、 声学扫描显微镜检查, 以及具有破坏性的 DPA 、 寿命试验和耐潮性项目。 该试验评价程序针对主要的失效机理, 充分考虑了塑封器件的批质量一致性、 高温下的器件寿命和耐潮性, 可以作为军用塑封器件的主要评价手段。关键词: 塑封器件; 失效机理; 试验流程中图分类号: TN406文献标识码: A 文章编号: 1672-5468 ( 2012 ) 02-0006-05Failure Mechanism Research and Test Procedurefor Military Plastic Encapsulated MicrocircuitSHENG Nian( Military Representative Office of the Air Force Stationed in the Area of Guangzhou and Shenzhen ,Guangzhou 510310 , China )Abstract : Erosion, pop corning and thermal mechanical distortion have become the primaryfailure mechanisms for plastic encapsulated microcircuits ( PEMs ) due to the characteristics oftheir structures and materials. In order to reduce risks , PEMs must be carefully evaluated beforebeing assembled. In this paper , an optimized testing procedure for PEMs that combined withvisual inspection , X-ray inspection , acoustic microscopy , DPA , life testing and moistureresistant testing is recommended. Based on the primary mechanism , the proposed procedurehave fully taken lot conformance , device lifetime under high temperature and the moistureresistance of PEMs into account. The test procedure could be used as the major approach forevaluating military PEMs.Key words : plastic encapsulated microcircuit ( PEM ); failure mechanism ; test procedure电 子 产 品 可 靠 性 与 环 境 试 验ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING电子元器件与可靠性收稿日期: 2011-11-15修回日期: 2012-01-30作者简介: 盛念 ( 1982- ), 男, 湖南沅江人, 空军驻 广州深圳地区军事代表室助理工程师, 从事通信产品的研究工作。2012 年 4 月第 30 卷 第 2 期Vol.30 No.2 Apr., 20120 引言近年来, 塑封器件由于其在尺寸、 重量、 成本和性能上的优点, 越来越多地应用于高可靠的技术领域中。 但由于塑封器件固有的结构、 材料特点,潮气入侵、 腐蚀、 开裂和内部分层成为塑封器件特有的潜在缺陷, 直接影响塑封器件的长期使用可靠性。 而塑封器件几乎总是以商业成品 ( COTS :Commercial off the Shelf ) 器件销售, 虽然制造商不DIANZI CHANPIN KEKAOXING YU HUANJING SHIYAN6

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