188宝金博页面版

  • 图案背景
  • 纯色背景
视图
标记
批注
批注本地保存成功，开通会员云端永久保存 去开通
karlsmith1..

上传于：2015-11-15

粉丝量：21

该文档贡献者很忙，什么也没留下。


  • 相关
  • 目录
  • 笔记
  • 书签

188宝金博页面版:更多相关文档

  • 汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案（ＰＤＦ）

    星级： 14 页

  • 汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案

    星级： 15 页

  • 汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案

    星级： 16 页

  • 土地储备项目贷款风险评价研究

    星级： 83 页

  • 面向汽车电子MCU的电磁兼容设计和测试技术研究

    星级： 101 页

  • 汽车电子抗扰测试及解决方案

    星级： 23 页

  • STM8A：汽车电子MCU方案

    星级： 6 页

  • STM8汽车电子MCU方案

    星级： 4 页

  • EMI 预兼容测试方案(汽车电子)

    星级： 14 页

  • MCU抗杂讯对策与程式可靠性设计

    星级： 6 页

  • MCU抗杂讯对策与程式可靠性设计

    星级： 7 页

  • 初中美术八年级下册面试教案说课稿【初中美术教师招聘必备】

    星级： 113 页

  • MCU硬件电路的设计与测试的学习情境实施计划

    星级： 17 页

  • MCU硬件电路的设计与测试的学习情境实施计划

    星级： 18 页

  • 汽车电子MCU技术原理与需求分析

    星级： 7 页

暂无目录

点击鼠标右键菜单,创建目录

    暂无笔记

    选择文本，点击鼠标右键菜单，添加笔记

    暂无书签

    在左侧文档中，点击鼠标右键，添加书签

    188宝金博页面版: 汽车电子 MCU 的抗 EMI设计与测试方案

    下载积分： 5000

    内容提示： 。常 卷 　 第 １ 期２０１４ 年 １ 月微 电 子 学 与 计 算 机MICROELECTRONICS & COMPUTERVol ．３１ 　 No ．１January ２０１４收稿日期 ：２０１３ －０４ －２０ ；修回日期 ：２０１３ －０５ －２２基金项目 ：国家自然科学基金青年基金项目（６１００６０２３）汽车电子 MCU 的抗 EMI 设计与测试方案于梦溪 ，王海欣 ，黑 　 勇（中国科学院 微电子研究所 ，北京 １０００２９）摘 　 要 ：针对汽车电子 MCU 的电磁兼容设计 ，提出了一些可行性的方法 ，主要包括时钟以及 IO 端口的设计 ，并且根据芯片级测试标准 IEC６１９６７ 的传导发射测试 ——— １ Ω／１５０ Ω 直接耦合法 ，进行适合汽车电子 MCU 的电磁干扰测试 ．经过样本数据的分析发现 ，芯片级电磁干扰与时钟频率 、功能模块类别以及工作模式...

    文档格式：PDF | 页数：6 | 浏览次数：274 | 上传日期：2015-11-15 14:05:20 | 文档星级：
    。常 卷 　 第 １ 期２０１４ 年 １ 月微 电 子 学 与 计 算 机MICROELECTRONICS & COMPUTERVol ．３１ 　 No ．１January ２０１４收稿日期 ：２０１３ －０４ －２０ ；修回日期 ：２０１３ －０５ －２２基金项目 ：国家自然科学基金青年基金项目（６１００６０２３）汽车电子 MCU 的抗 EMI 设计与测试方案于梦溪 ，王海欣 ，黑 　 勇（中国科学院 微电子研究所 ，北京 １０００２９）摘 　 要 ：针对汽车电子 MCU 的电磁兼容设计 ，提出了一些可行性的方法 ，主要包括时钟以及 IO 端口的设计 ，并且根据芯片级测试标准 IEC６１９６７ 的传导发射测试 ——— １ Ω／１５０ Ω 直接耦合法 ，进行适合汽车电子 MCU 的电磁干扰测试 ．经过样本数据的分析发现 ，芯片级电磁干扰与时钟频率 、功能模块类别以及工作模式等有着密切的关系 ．关键词 ：汽车电子 ；电磁兼容 ；电磁干扰测试 ；同时开关噪声中图分类号 ：TN４０２ 　 　 　 　 　 文献标识码 ：A 　 　 　 　 　 文章编号 ：１０００ －７１８０（２０１４）０１ －０１４２ －０６Anti‐EMI Design and Test Scheme for Automotive MCUYU Meng‐xi ，WANG Hai‐xin ，HEI Yong（Institute of Microelectronics ，Chinese Academy of Sciences ，Beijing １０００２９ ，China）Abstract ：Proposing some effective methods for electromagnetic capability of Automotive MCU ，including clock andIO port design ． According to conducted emissions test of IEC６１９６７ ——— １Ω／１５０Ω direct coupling method forelectromagnetic interference ，a test suitable for Automotive MCU is done in the paper ．From analysis result ofsample data ，electromagnetic interference of chip level has close relationship with clock ，characteristics of functionmodule and operation mode ．Key words ：automotive electronics ；EMC ；EMI test ；SSN１ 　 引言随着集成电路集成度的提高 ，越来越多的元件集成到芯片上 ，电路功能变得复杂 ，工作电压也在降低 ．当一个或多个电路里产生的信号或噪声与同一个芯片内另一个电路的运行彼此干扰时 ，就产生了芯片内的 EMC 问题 ，最为常见的就是 SSN（Simul‐taneous Switch Noise ，同时开关噪声）和 Crosstalk（串音） ，它们都会给芯片正常工作带来影响 ．由于集成电路通过高速脉冲数字信号进行工作 ，工作频率越高产生的电磁干扰频谱越宽 ，越容易引起对外辐射的电磁兼容方面问题 ．基于以上情况 ，集成电路本身的电磁干扰（EMI）与抗扰度（EMS）问题已成为集成电路设计与制造关注的课题 ．集成电路电磁兼容不仅涉及集成电路电磁干扰与抗扰度的设计和测试方法 ，而且有必要与集成电路的应用相结合 ．针对汽车电子领域来讲 ，将对整车级 、零部件级的电磁兼容要求强制性标准 ，结合到集成电路的设计中 ，才能使电路更易于设计出符合标准的最终产品 ．作为电子控制系统里面最为关键的单元 ——— 微控制器（MCU） ，其 EMC 性能的好坏直接影响各个模块与系统的控制功能 ．本文在汽车电子 MCU 中采用抗 EMI 的设计方法 ，依据 IEC６１９６７ 传导测试标准 ，对汽车电子MCU 进行电磁干扰的测试 ．２ 　 汽车电子 MCU 设计方法下面介绍在汽车电子 MCU 中使用的可行性设计方法以及其他几种抗 EMI 设计技术 ．２ ．１ 　 时钟电路设计由于时钟电路产生的时钟信号一般都是周期信号 ，其频谱是离散的 ，离散谱的能量集中在有限的频

    阅读了该文档的用户还阅读了这些文档

    188宝金博页面版:关于我们

    188宝金博页面版:帮助中心

    188宝金博页面版:关注我们

    • 新浪微博

    关注188宝金博页面版公众号

    188宝金博页面版
    阅读
    APP
    阅读
    返回
    顶部
    188宝金博页面版官网登录在线平台入口（2026已更新）—江苏协昌电子科技股份有限公司