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188宝金博页面版: 半导体单晶晶向测定方法(1)
内容提示： GBfT 1555-- 1997前言 本标准等效采用AST M F26- 87a《 半导体单晶晶向测定方法》 ， 对GB 1555- 79,(硅单晶晶向光图测量方法》 ,GB 1556- 79( (硅单晶晶向X 光衍射测量方法》 ,GB 5254- 85( (锗单晶晶问k 光衍射测定方法},GB 5255- 85((锗单晶晶向光反射图像测定方法》 及GB 8759 -88《 化合物半导体单晶品向X 光反射测量方法》 进行修订， 将上述 5个标准合并为本标准 本标准技术内容与AST M F26等效， 分为方法A X 射线衍射方法和方法 B 光图定间法两种方法 等效采用ASTM F 26时， 删去“安全措施”的内容， 使用X 射线的安全措施按我国有...
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