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    188宝金博页面版: 基于C8051F的阵列型LED器件测试仪硬件系统设计

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    内容提示： 第24卷第2期 2010年 2 月 常熟G -Y --学院学报 ( 自然科 学) J ournal of Changshu Institute Technol0gy(Natural Sciences) V o1 ．24 No ． 2 F eb． ， 2 0 10 基 于 C 805 1 F 的阵列型 L E D 器件 测试仪硬 件 系统 设计 徐健 ， 邬正义 ， 王斌 ， 杜广文 ( 常熟 理工 学 院 物理 与 电子工程 学 院 ， 江苏 常熟 215500) 摘 机 C8051F060 ， 提 出了该 测试仪 的 系统设 计 方案 ． 对测 试仪硬 件 系统 的 总体 结构 以及 正 向导通 电压 测试电路、 反向漏电流测试 电路 、 测试回路和阵列选择 电路等主要功 能模块的硬件 实现作 了具体 阐述 和分析 ． 关键词 ...

    文档格式：PDF | 页数：4 | 浏览次数：17 | 上传日期：2015-04-18 13:05:34 | 文档星级：
    第24卷第2期 2010年 2 月 常熟G -Y --学院学报 ( 自然科 学) J ournal of Changshu Institute Technol0gy(Natural Sciences) V o1 ．24 No ． 2 F eb． ， 2 0 10 基 于 C 805 1 F 的阵列型 L E D 器件 测试仪硬 件 系统 设计 徐健 ， 邬正义 ， 王斌 ， 杜广文 ( 常熟 理工 学 院 物理 与 电子工程 学 院 ， 江苏 常熟 215500) 摘 机 C8051F060 ， 提 出了该 测试仪 的 系统设 计 方案 ． 对测 试仪硬 件 系统 的 总体 结构 以及 正 向导通 电压 测试电路、 反向漏电流测试 电路 、 测试回路和阵列选择 电路等主要功 能模块的硬件 实现作 了具体 阐述 和分析 ． 关键词 ： LE D ； C8051F； 恒流 源 ； 正 向电压 ； 漏 电流 中图分类号 ： TP274+． 2 文献标识码： A 文章编号 ： 1008— 2794(2010) 02— 0079— 04 要： 介绍了阵列型 LE D 器件 电参数测试仪 的测试原理和控制方法， 基 于高性 能混合信号单片 随着LE D行业的迅猛发展， LED产品越发丰富， 市场上各种集成了多个LED 的新型阵列型器件层出不穷， 对其参数检测的要求也越来越多样化 ， 因此准确、 合理的参数测量 ， 可靠、 高效的测量系统， 对 LE D器件的生产 具有重要的意义． 本文利用 Silicon Laboratories推出的高速SoC 单片机 C8051F060构建一种新型的LED器件测 试系统， 设计出了使用便捷 、 智能化 、 适用广泛的阵列型LED器件电参数测试仪． 测试仪可对阵列型LED器件 内各个独立发光二极管的电参数进行快速和准确测量 ， 并通过与上位机进行实时数据交互 ， 为全面分析LE D 产品质量提供了有效途径． C8051F 单片机是完全集成的混合信号系统芯片(soc) ， 具有与 8051指令集完全兼容的 CIP一 51内核和高 速、 高性能、 高集成度等特点． 它采用流水线处理技术， 指令执行速度最高可达25MIPS( Milli0n Instructions Per Second) ； 支持J TAG在线编程， 便于调试 ； 更具特色的是， 它在一个芯片内集成了构成一个单片机数据采集或控 制系统所需要的几乎所有模拟和数字外设及其他相关功能部件． 对于 C8051F060， 其可用资源包括 2个 16位 SAR ADC， 两个 12位DAC， 59个通用 I／ O引脚， 2个UART 串行端 口， 此外还有电压比较器、 内部时钟振荡器、 SPI 和I C 总线等 ． C8051F060的丰富功能在本设计中得到了有效发挥 ， 极大提高了系统的集成度． 1 系统功能和工作原理 作为测量阵列型LED 器件的智能仪器 ， 测试系统测量的目标参数是器件 内各个 LE D在一定条件下的正向 电压和反向电流， 因此硬件系统实现的主要功能包括正向电压测试、 反向电流测试、 测试回路选择和LED 阵列 选择等； 另外， 系统还需要完成一系列命令响应、 数据处理与通讯等任务 ． 测试系统工作时， PC 机作为主控端 ， 是所有命令的发出者 ， 硬件系统作为执行端 ， 完成测试任务并返回数 收稿 日期 ： 2009— 12— 30 作者简介： 徐机应用技术 ． 健(1981一) ， 男 ， 江苏常熟人， 常熟理工学院物理与电子工程学院助教， 硕士， 研究方向： 嵌入式系统、 计算

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