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188宝金博页面版: 红外测温技术在复合绝缘子检测中的应用

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内容提示: 书书书!""# 年 $ 月第% 卷 第$ 期电& 力& 设& 备’()*+,-*.( ’/0-12)3+!4)15 !""#67(8% 978$红外测温技术在复合绝缘子检测中的应用陈! 豪", 陈! 原", 赵雪松#, 沈! 健#, 冯旭辉$(!" 华北电力科学研究院有限责任公司, 北京市 !###$%; &" 北京超高压公司, 北京市 !###$%;’" 保定供电公司, 河北省 保定市 #(!#%!)摘要:分析了广东佛山供电局 ##% &’ 和北京超高压公司 (%% &’ 故障复合绝缘子的红外测温结果, 说明红外测温技术能够实现远距离、 大面积快速扫描, 是发现复合绝缘子内部缺陷的有效手段。同时将红外测温结果和电场分布测量结果进行了比较, 表明红外测温技...

文档格式:PDF | 页数:2 | 浏览次数:89 | 上传日期:2010-04-27 14:49:36 | 文档星级:
书书书!""# 年 $ 月第% 卷 第$ 期电& 力& 设& 备’()*+,-*.( ’/0-12)3+!4)15 !""#67(8% 978$红外测温技术在复合绝缘子检测中的应用陈! 豪", 陈! 原", 赵雪松#, 沈! 健#, 冯旭辉$(!" 华北电力科学研究院有限责任公司, 北京市 !###$%; &" 北京超高压公司, 北京市 !###$%;’" 保定供电公司, 河北省 保定市 #(!#%!)摘要:分析了广东佛山供电局 ##% &’ 和北京超高压公司 (%% &’ 故障复合绝缘子的红外测温结果, 说明红外测温技术能够实现远距离、 大面积快速扫描, 是发现复合绝缘子内部缺陷的有效手段。同时将红外测温结果和电场分布测量结果进行了比较, 表明红外测温技术可以发现局部发热的内绝缘缺陷, 电场分布测量法可发现导通性通道的内绝缘缺陷。关键词:红外测温; 复合绝缘子; 内部缺陷; 电场分布测量法中图分类号:)*+#,- "; )*.$(- /:& 概述绝大多数由电场引起的绝缘材料的损坏, 在其受损处都会出现因局部放电泄漏电流引起的温度升高现象。红外测温技术就是利用这一机理来测量受损部位异常升温, 并以此来确定绝缘材料受损情况的一种检测手段。发生过故障的复合绝缘子与正常复合绝缘子的表面热场分布是不同的, 用红外检测方法即可判断绝缘子是否发生故障。虽然复合绝缘子挂网运行的时间不长, 用红外测温技术检测复合绝缘子的故障情况还处于研究阶段, 但红外测温技术能够实现远距离、 大面积快速扫描, 因此使用该方法检测复合绝缘子具有明显的优势["]。目前市场上可供选择的红外摄像仪的质量、 体积、操作等与普通家用摄像机相似, 便于携带和操作, 甚至可携带上塔对绝缘子进行近距离拍照。过去的同类仪器易受用光影响, 白天不能使用; 现在的高档仪器可在白天使用, 且灵敏度 0" 1, 可自动显示最高温度值。!& 复合绝缘子内绝缘缺陷的红外测温检测!5 :& 佛山供电局红外测温检测#%%" 年"" 月, 对广东佛山地区运行中的 ##% &’复合绝缘子进行了现场红外测温试验, 环境温度为$"-( 1。其中, 紫红乙线$$ 号 2 相异常发热点温度为/+-( 1; 紫红乙线$$ 号 3 相异常发热点的最高温度位于第# 片和第$ 片大伞之间, 温度为+%-+ 1, 次高温度点位于第. 片和第4 片大伞之间, 温度为/%-, 1; 芳平线$% 号左相异常发热点位于第 # 片大。 温度为(#-% 1; 芳平线 $% 号中相异常发热点位于第 / 片大。 温度为((-4 1。红外成像图如图 " 所示。根据检测, 可初步判断这些绝缘子均存在内绝缘缺陷。将这些绝缘子在实验室进行了陡波和工频耐压(5)紫红乙线 (6) 紫红乙线$$ 号 2 相(7)芳平线$% 号左相(8)芳平线$% 号中相$$ 号 3 相图 "! 红外成像图试验。实验中都发生了内绝缘击穿, 说明绝缘子确实存在内绝缘缺陷。由此可见, 试验结果与现场红外测温的试验结果相吻合。!5 !& 华北电力科学研究院红外测温检测!5 !5 :& 红外测温试验#%%/ 年 ( 月 , 日, 北京超高压公司对 (%% &’ 安北线的运行绝缘子进行了红外测温试验, 环境温度为#% 1, 湿度为 /%9 。试验中发现 (" 号左相大号侧复合绝缘子高压端第 " 片与第 # 片伞裙之间、 第 $ 片与第 / 片伞裙之间、 第 / 片与第 ( 片伞裙之间存在异常发热现象, 最高发热点的温度为 ,%- $ 1, 绝缘子其他部位的温度为 #,- + 1, 异常发热点的温度较正常部位的温度高 $$- , 1, 因此初步判断属于严重的内部缺陷。其红外成像如图 # (5) 所示。#%%( 年. 月#( 日, 在华北电力科学研究院沙河实验站重新进行了该项试验, 环境温度为 #4 1, 相对湿度为$%9, 试验电压为 (%% &’, 试验结果如图 # (6) 所示。由于试验电压较绝缘子的运行电压高, 使得异常

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