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188宝金博页面版: 成分测定装置、成分测定装置组件以及信息处理方法

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内容提示: (19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 202280007179.6(22)申请日 2022.01.19(30)优先权数据2021-024645 2021.02.18 JP(85)PCT国际申请进入国家阶段日2023.04.26(86)PCT国际申请的申请数据PCT/JP2022/001795 2022.01.19(87)PCT国际申请的公布数据WO2022/176488 JA 2022.08.25(71)申请人 泰尔茂株式会社地址 日本东京都(72)发明人 相川亮桂 (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227专利代理师 张青(51)Int.Cl.G01N 21/78 (2006.01) (54)发明名称成分测定装置、成分测定装置组件以及信息处理方法...

文档格式:PDF | 页数:41 | 浏览次数:32 | 上传日期:2023-08-06 23:40:22 | 文档星级:
(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 202280007179.6(22)申请日 2022.01.19(30)优先权数据2021-024645 2021.02.18 JP(85)PCT国际申请进入国家阶段日2023.04.26(86)PCT国际申请的申请数据PCT/JP2022/001795 2022.01.19(87)PCT国际申请的公布数据WO2022/176488 JA 2022.08.25(71)申请人 泰尔茂株式会社地址 日本东京都(72)发明人 相川亮桂 (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227专利代理师 张青(51)Int.Cl.G01N 21/78 (2006.01) (54)发明名称成分测定装置、成分测定装置组件以及信息处理方法(57)摘要成分测定装置具有用于将成分测定芯片插入的芯片插入空间,该成分测定装置具备:发光部,其在所述成分测定芯片插入到所述芯片插入空间的状态下,向所述成分测定芯片射出照射光;受光部,其接受在所述成分测定芯片透过或反射的光;以及控制部,所述控制部基于相对于从所述发光部射出了特定波长的照射光的情况下所述受光部中的光的受光强度的、从所述发光部射出了其他波长的照射光的情况下所述受光部中的光的受光强度的比例,来检测所述成分测定芯片的异常。权利要求书2页 说明书26页 附图12页CN 116368371 A2023.06.30CN 116368371 A

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