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    内容提示： FORM 02 (SAC) Page 1 of 3 Version 2005-12 推荐性国家标准项目建议书 *项目名称1 (中文) *制定或修订2 采用国际标准3 一致性程度标识 采用快速程序4 *标准类别 *技术委员会5 (或)技术归口单位5 LED 加速寿命试验方法 *项目名称 (英文) 被修订标准号 采标号 采标中文名称 快速程序代码 ICS 分类号 全国 TC/SC 号 Accelerated life test for LED 制定 请选择 IDT FTP 方法 中国电子技术标准化研究所 中国光学光电子行业协会光电器件分会主办 、中国电子科技集团公司第十三研究所副主办 339-1 2009 年 寿命试验是在实验室模拟各种...

    文档格式：PDF | 页数：3 | 浏览次数：123 | 上传日期：2011-10-12 14:46:33 | 文档星级：
    FORM 02 (SAC) Page 1 of 3 Version 2005-12 推荐性国家标准项目建议书 *项目名称1 (中文) *制定或修订2 采用国际标准3 一致性程度标识 采用快速程序4 *标准类别 *技术委员会5 (或)技术归口单位5 LED 加速寿命试验方法 *项目名称 (英文) 被修订标准号 采标号 采标中文名称 快速程序代码 ICS 分类号 全国 TC/SC 号 Accelerated life test for LED 制定 请选择 IDT FTP 方法 中国电子技术标准化研究所 中国光学光电子行业协会光电器件分会主办 、中国电子科技集团公司第十三研究所副主办 339-1 2009 年 寿命试验是在实验室模拟各种使用条件来进行的,为了缩短试验时间在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法来进行试验通过加速寿命试验可以评价产品的可靠性水平。半导体照明用发光二极管 LED可靠性要求是 LED 器件能否应用于半导体照明的重要考量。因此规定适当的寿命要求、测量与试验方法是规范行业有序竞争的首要条件此标准的制定对于促进我国半导体照明产品应用和行业产业化发展具有重大意义。 平均寿命是电子元器件最常用的可靠性参数发光二极管简称 LED一般以光输出的衰减值作判据来获取试验数据常规的方法需要较长的试验时间本标准给出了一种可缩短试验 修订 请选择 . . ; . . ; . . MOD NEQ *起草单位 *主管部门6 *计划起始年 *完成年限 2010 年 *目的意义 *范围和主要 技术内容 时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序简称退化系数解析法 。本标准规定了LED 产品以下简称产品恒定应力加速寿命试验的程序。它适用于各种可见光和非可见光LED 光输出的慢退化模式。通过试验数据可求得该产品的平均寿命。 主要研究内容 1、规定 LED 产品恒定应力加速寿命试验的程序。 2、适用于各种可见光和非可见光 LED 光输出的慢退化模式。 3、通过加速寿命试验来计算产品的平均寿命和评价产品的可靠性水平。 国内已有标准 GB 2689.181 恒定加速寿命和加速寿命试验方法总则、 GB 2689.281 寿命试验和加速寿命的图估法用于威布尔分布 、GB 2689.381 寿命试验和加速寿命的简单线性无偏估计法用于威布尔分布 、GB 2689.481 寿命试验和加速寿命的最好线性无偏估计法用于威布尔分布 、SJ/T 11099-96 寿命试验用表 最好线性无偏估计用表极值分布 威布尔分布 。 本标准是针对我国半导体照明产品的发展要求参照上述标准修订和完善。 10 万元 [注 1] 表格项目中带 * 号的为必须填写项目 [注 2] 修订标准必填被修订标准号多个被修订标准号之间用半角逗号“,”分隔 [注 3] 如采用国际标准先选择组织名称再填采标号及一致性程度标识多个采标号之间用半角逗号“,”分隔 [注 4] 技术委员会和技术归口单位必须填写其一若填写技术委员会则必须填写全国 TC/SC 号 *国内外情况 简要说明 项目成本预算 备注

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