- 相关
- 目录
- 笔记
- 书签
188宝金博页面版:更多相关文档
-
【精品】ESD测试方法
星级: 9 页
-
ESD测试方法大全(精品)
星级: 78 页
-
ESD测试方法大全
星级: 78 页
-
esd测试方法大全
星级: 78 页
-
设备ESD测试方法和系统
星级: 6 页
-
[精品]ESD测试题
星级: 3 页
-
【精品资料】ESD测试试卷
星级: 2 页
-
【精品】ESD测试、防护简介
星级: 14 页
-
【精品】ESD测试试卷
星级: 3 页
-
ESD测试
星级: 3 页
-
ESD测试
星级: 2 页
-
ESD测试
星级: 60 页
-
esd测试
星级: 60 页
-
MCU的ESD测试方法改进及其IO防护设计研究
星级: 75 页
-
ESD测试试题
星级: 2 页
暂无目录
暂无笔记
暂无书签
188宝金博页面版: 【精品】ESD测试方法
内容提示: UTC ESD TEST 測試方法 輸入腳/輸出腳的 ESD 測試 因為 ESD 發生在一隻輸入腳(或輸出腳)可能相對於 VDD 或 VSS 端具有正的或負 的電壓極性, 因此在工業測試 標準上, 有 PS,NS,PD 以及 ND 四種放電模式, 有關各種模式 的定義; 在第三章中已有詳述。 這些模式之靜電放電可能 會對輸入或輸出元件造成損壞, 更甚至會損及 IC 內部之電 路元件。 在傳統的靜電放電防護設計上, 靜電放電防護元件一 般都是做在墊片(pad)與 VSS 端之間, 在墊片與 VDD 端之間 沒有靜電放電防護元件。 在這種靜電放電防護設計之下, IC 中的內部電路常出現異常之損壞問題。
阅读了该文档的用户还阅读了这些文档
-
188宝金博页面版: 【精品】工程力学复习题
-
188宝金博页面版: 【精品】非晶态MnCeO催化芳香醇选择氧化
-
188宝金博页面版: 【精品】普通话
-
188宝金博页面版: 【精品】天津市2011年初中毕业生学业考查历史试卷
-
188宝金博页面版: 【精品】潍县署中画竹呈年伯包大中丞括
-
188宝金博页面版: 【精品】阑尾炎病人的护理(彭奇)
-
188宝金博页面版: 【精品】3.硬件及文件夹操作
-
188宝金博页面版: 【精品】2009年海宁市盐官片八年级科学竞赛试题卷(含答案)
-
188宝金博页面版: 【精品】生活中镶嵌
-
188宝金博页面版: 【精品】第三章真核微生物
