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188宝金博页面版: 【精品】ESD测试方法

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内容提示: UTC ESD TEST 測試方法 輸入腳/輸出腳的 ESD 測試 因為 ESD 發生在一隻輸入腳(或輸出腳)可能相對於 VDD 或 VSS 端具有正的或負 的電壓極性, 因此在工業測試 標準上, 有 PS,NS,PD 以及 ND 四種放電模式, 有關各種模式 的定義; 在第三章中已有詳述。 這些模式之靜電放電可能 會對輸入或輸出元件造成損壞, 更甚至會損及 IC 內部之電 路元件。 在傳統的靜電放電防護設計上, 靜電放電防護元件一 般都是做在墊片(pad)與 VSS 端之間, 在墊片與 VDD 端之間 沒有靜電放電防護元件。 在這種靜電放電防護設計之下, IC 中的內部電路常出現異常之損壞問題。

文档格式:PDF | 页数:9 | 浏览次数:45 | 上传日期:2013-04-18 08:17:41 | 文档星级:
UTC ESD TEST 測試方法 輸入腳/輸出腳的 ESD 測試 因為 ESD 發生在一隻輸入腳(或輸出腳)可能相對於 VDD 或 VSS 端具有正的或負 的電壓極性, 因此在工業測試 標準上, 有 PS,NS,PD 以及 ND 四種放電模式, 有關各種模式 的定義; 在第三章中已有詳述。 這些模式之靜電放電可能 會對輸入或輸出元件造成損壞, 更甚至會損及 IC 內部之電 路元件。 在傳統的靜電放電防護設計上, 靜電放電防護元件一 般都是做在墊片(pad)與 VSS 端之間, 在墊片與 VDD 端之間 沒有靜電放電防護元件。 在這種靜電放電防護設計之下, IC 中的內部電路常出現異常之損壞問題。

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