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188宝金博页面版: 对高压断路器Cu W触体侵蚀的调查
内容提示： 对高压断路器 Cu/ W 触头侵蚀的调查 JensTepper,MartinSeeger,Member,IEEE,TorstenVotteler,VolkerBehrens,and ThomasHonig 摘要:预测和理解高压断路器的Cu/ W触头电弧接触的侵蚀过程对提高断路器的寿命很重要。由于侵蚀导致的几何接触变化是影响断路器寿命的一个主要因素。据了解?触点材料的烧蚀至少取决于像电弧电流幅度?燃弧时间?总电量?和触头材料性能等参数。在实验结果的基础上?得到了一种改进预测侵蚀的方法。实验已经实现了对 SF 6 自爆断路器测试装置随商业高压断路器触头当电流幅度高达 45 kA 和燃弧时间达 17 毫秒时的试验。根据电极能量平...
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